掃描電子顯微鏡（SEM）產品及廠家
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-12-27
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-27
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-27
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-12-27
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-12-27
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-12-27
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結構。
更新時間:2025-12-27
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-12-27
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-12-27
德neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設計優(yōu)勢，采用專利保護的雙光路設計，完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-12-27
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時將分辨率提高到新的限，全新設計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-12-27
行業(yè)標準操作sh/t 0221液化石油氣密度或相對密度測定法(壓力密度計法)
更新時間:2025-12-27
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-12-26
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-12-26
ui新一代的mira場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了zui新的技術優(yōu)點（如改進的高性能電子設備使成像過程更快，快速掃描系統(tǒng)包括了動態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補償，有內置的編程軟件等），同時保持著zui高的性價比。mira3的設計適用于各種各樣的sem應用及當今研究和產業(yè)的需求。大電子束流下的高分辨率有利于分析應用，例如：ebsd、wdx等分析。mira3場發(fā)射掃描電鏡可配置lm、xm或gm三種樣品室。
更新時間:2025-12-26
vega系列的設計適合各種sem應用及當今研究和工業(yè)的需求。經過10多年的不斷發(fā)展，tescan已經成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產品。新一代的vega給用戶帶了zui新的技術優(yōu)勢，包括改進的高性能電子設備使成像速度更快，包含了靜態(tài)和動態(tài)圖像扭曲補償技術的超快掃描系統(tǒng)，內置的編程軟件等，使vega系列產品保持著非常高的性價比。
更新時間:2025-12-26
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-12-25
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-12-25
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能，讓您從光學顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現(xiàn)了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:2025-12-25
超聲掃描顯微鏡（sat）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備，主要利用高頻超聲波，對各類半導體器件、材料進行檢測，能夠檢測出樣品內部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會對樣品造成損傷，不會影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導體、電力電子、熱管理材料、金剛石復合材料、碳纖維復合材料等行業(yè)需求。
更新時間:2025-12-25
tomlov hdmi電源產品顯微鏡將傳統(tǒng)顯微鏡升級為數(shù)字可視化系統(tǒng)，讓觀察更輕松、記錄更便捷。三款產品以不同配置滿足從入門到專業(yè)的各類需求，是電子愛好者、收藏家和專業(yè)維修人員的實用工具。
更新時間:2025-12-25
zsm-300/500視頻顯微鏡充分考慮教學示范、工業(yè)檢驗對方便性和直觀性的要求而設計。廣泛應用于教學、科研、電子工業(yè)和精密機械零件的檢驗、農業(yè)種子檢查、考古檢驗等。
更新時間:2025-12-25
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-12-25
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-12-25
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點： 1. 新型
更新時間:2025-12-25
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學系統(tǒng)，強大的自動化功能，操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-12-25
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達臺可以傾
更新時間:2025-12-25
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-12-25
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-12-25
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-12-25
這種新型的冷場發(fā)射電子槍采用日立專利的“柔性閃爍”“mild flashing”技術和全新改進的真空系統(tǒng)，在發(fā)射極尖端極大限度減少氣體分子附著。 發(fā)射極始終運行于“潔凈”的狀態(tài)，發(fā)射電流和電子束穩(wěn)定性顯著提升。 即使在低加速電壓下，也可以得到高信噪比的sem信號并進行高分辨觀察。 這些增強性能開辟了低電壓下元素微量分析的全新里程。
更新時間:2025-12-25
掃描隧道顯微鏡◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩(wěn)定；◆ 精密激光及探針定位裝置，更換探針及調節(jié)光斑簡單方便；◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區(qū)域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；◆ 4x物鏡光學定位，無需調焦，實時觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域；◆ 彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，防震效果好；
更新時間:2025-12-25
教學型掃描隧道顯微鏡◆ 小型化及可拆卸化設計，方便攜帶及課堂教學；◆ 檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩(wěn)定；◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區(qū)域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；◆ 側面ccd觀測系統(tǒng)，實時觀察探針進針狀態(tài)及定位樣品掃描區(qū)域；◆ 彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，防震效果好；
更新時間:2025-12-25
日本東亞電波離子層析儀(離子色譜儀)本體裝置和數(shù)據(jù)處理裝置之間的通信，如導入lan的設施，可作遠距操作。擁有優(yōu)越的擴張性、如增設pump、檢出器等的單元，可對應陰離子、陽離子2ch的同時分析。依抑制因子系統(tǒng)可
更新時間:2025-12-24
日立高新掃描電子顯微鏡此外，還搭載了全新的導航功能“sem map”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現(xiàn)直觀的視野移動。flexsem 1000 ii，憑借全新設計的電子光學系統(tǒng)和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kv下實現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面，具有亮度和對焦自動調節(jié)功能，可以在短時間內進行各種觀察。
更新時間:2025-12-24
日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8200系列日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8200系列（hitachi uhr fe-sem su8200 series，su8220，su8230，su8240）采
更新時間:2025-12-24
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需300萬倍穩(wěn)定觀察的半導體器件，高分辨成像所設計。紫外臭氧清洗機常用于掃描
更新時間:2025-12-24
日立高新掃描電子顯微鏡flexsem 1000 i掃描電子顯微鏡可對材料的表面進行高倍率觀察及高精度元素分析，在納米技術、生命科學、產品設計研發(fā)及失效分析等領域有著廣泛的應用。flexsem 1000
更新時間:2025-12-24
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000日本日立hitachi超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡regulus系列 的詳細介紹 沿用"su8200系列"的冷場發(fā)射電子槍*2 采用電子束在fla
更新時間:2025-12-24
電子顯微鏡（electron microscope）是利用電子與物質作用所產生之訊號來監(jiān)定微區(qū)域晶體結構，微細組織，化學成份，化學鍵結和電子分布情況的電子光學裝置。常用的有透射電子顯微鏡（ｔｅｍ）和掃描電子顯微鏡（ｓｅｍ）。與光學顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。多功能電子顯微鏡將常見的ｔｅｍ、ｓｅｍ、ｓｔｅｍ、ｅｄ四種模式結合
更新時間:2025-12-24
聲學顯微鏡，學名是：掃描聲學顯微鏡scanning acoustic microscope，簡稱sam。它是基于聲波脈沖反射和透射原理工作的，只要聲波信號在樣品表面或者內部遇到聲波阻抗（如遇到孔隙、氣泡等），就會發(fā)生反射。 sam主要用于材料淺表層結構分析、材料力學性能的檢測、無損檢測等。
更新時間:2025-12-24
透射電子顯微鏡（ｔｅｍ）和掃描電子顯微鏡（ｓｅｍ）。與光學顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。
更新時間:2025-12-24
最新產品
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