掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家

飛納臺式掃描電鏡 Phenom ProX
加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進(jìn)光路設(shè)計(jì),將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:2025-12-27
飛納臺式掃描電子顯微鏡業(yè)版Pro
第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大,輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能,結(jié) 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
更新時間:2025-12-27
飛納臺式掃描電子顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)版Pure
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)?;诟吡炼?ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng),phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm,同時具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
更新時間:2025-12-27
飛納臺式掃描電鏡 Phenom  Pro
第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大,輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能,結(jié) 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
更新時間:2025-12-27
飛納臺式掃描電鏡Phenom Pro
飛納掃描電鏡是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 350,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。
更新時間:2025-12-27
飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL
全新的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握新信息,是各種應(yīng)用的理想選擇。phenom xl g2 升為全面屏成像,平均成像時間僅為 40 ,比市場上其他臺式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對大 100 x 100mm 的樣品進(jìn)行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。利設(shè)計(jì)的放氣/樣品裝載系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)全快的放氣/裝載速度,并獲得大的樣品吞吐效率。
更新時間:2025-12-27
飛納臺式掃描電鏡電鏡能譜一體機(jī)
加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進(jìn)光路設(shè)計(jì),將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:2025-12-27
第七代飛納臺式掃描電鏡 Phenom Pro|高分辨率專業(yè)版
phenom pro 是飛納(phenom)第七代高分辨率臺式掃描電鏡,采用一代 高亮度 ceb? 燈絲 與優(yōu)化的電子光學(xué)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn) 優(yōu)于 6 nm 分辨率,最高放大 350,000×, 輕松完成納米級與亞微米級材料的微觀形貌觀察。相比上一代產(chǎn)品,分辨率提升約 20%,新增 實(shí)時 bse/se 混合圖像(mix) 功能,為科研與工業(yè)檢測帶來更高效率與更精確的微觀分析體驗(yàn)。
更新時間:2025-12-27
飛納臺式自動化掃描電鏡大樣品室版
的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握信息,是各種應(yīng)用的理想選擇。phenom xl g3 平均成像時間僅為 40 秒,比市場上其他臺式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對最大 100 x 100mm 的樣品進(jìn)行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。專利設(shè)計(jì)的放氣 / 樣品裝載系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)全世界相對較快的放氣 / 裝載速度,并獲得非常少有的比較高的樣品吞吐效率。
更新時間:2025-12-27
飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX G7
飛納電鏡能譜一體機(jī) phenom prox 是終的集成化成像分析系統(tǒng)。借助該系統(tǒng),既可觀察樣品的表面形貌,又可分析其元素組分。
更新時間:2025-12-27
飛納臺式大倉室自動化掃描電鏡
荷蘭飛納公司隆重推出第三代飛納臺式大倉室自動化掃描電鏡 phenom xl g3
更新時間:2025-12-27
適用金屬和礦物研究—飛納電鏡物相分析軟件
適用金屬和礦物研究—飛納電鏡chemiphase物相分析軟件更容易,更全面,更準(zhǔn)確的物相分析
更新時間:2025-12-27
飛納電鏡全景拼圖【新品】
全新界面,一鍵掃描更便捷掃描“形狀”自定義大樣品全景觀測高清圖像無錯位
更新時間:2025-12-27
ChemiSEM 彩色成像技術(shù)
飛納電鏡推出的 chemisem 技術(shù),將 sem 形貌觀察與 eds 成分分析相結(jié)合,讓工作流程更加流暢,簡化了許多材料(包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等)的分析流程:通過彩色元素分布圖與 sem 圖像的實(shí)時疊加,在成像同時提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。
更新時間:2025-12-27
Phenom MAPS 大面積圖像拼接
phenom maps 作為一款多模態(tài)多維度地圖式圖像自動采集及拼接軟件,可自動獲取大型圖像數(shù)據(jù)集,并直觀地組合和關(guān)聯(lián)多種成像、分析模式,從而提供多尺度和多模態(tài)的表征數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-12-27
德國KSI  型 全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng),在ksi i-wafer的探測下,晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測
更新時間:2025-12-27
KSI 型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測,有了它,晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測,晶錠的尺寸可達(dá)450mm,檢測時間短,也不需要做其它設(shè)定。
更新時間:2025-12-27
KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi-nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時間:2025-12-27
德國KSI  雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時使用2只換能器
更新時間:2025-12-27
德國ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350,crossbeam 550
更新時間:2025-12-27
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ,是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航,可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野,live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時獲取元素分析結(jié)果,smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-12-27
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr,采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng),可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率;從設(shè)定視野到生成報告,利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2025-12-27
日本JEOL熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
更新時間:2025-12-27
日本JEOL低溫冷凍離子切片儀
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis,冷卻保持時間長,有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-12-27
日本JEOL 離子切片儀
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ,用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度(0°到6°)的氬離子束通過遮光帶照射樣品,大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好,對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-12-27
日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-27
日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-27
日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp,在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu),在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-12-27
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀,通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度x射線ccd相機(jī),實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測,并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析,超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-12-27
日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100,可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測器,組合使用wds和eds,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-12-27
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000,配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較,sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:2025-12-27
日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f,該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng),在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-12-27
日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s,采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(fp法・檢量線法)、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時間:2025-12-27
德Neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡
德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom,該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計(jì)優(yōu)勢,采用專利保護(hù)的雙光路設(shè)計(jì),完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時,由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源(thz-tds),也可以實(shí)現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-12-27
太赫茲近場光學(xué)顯微鏡
thz-neasnom太赫茲近場光學(xué)顯微鏡 -30nm光學(xué)信號空間分辨率
更新時間:2025-12-27
ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡
zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動化工作流程的高清晰掃描電鏡
更新時間:2025-12-27
日本電子JEOL場發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會社(jeol) 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡,它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流,高穩(wěn)定性的傳統(tǒng),同時將分辨率提高到新的限,全新設(shè)計(jì)的超混合型物鏡,高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成,而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-12-27
SS-60系列掃描電子顯微鏡
ss-60系列臺式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間??;放大倍率30 ~60,000 x,15nm分辨率;采用二次電子和背散電子雙重探測器;ss-60掃描電鏡具有強(qiáng)大軟件功能,操作簡單,易于維護(hù);國產(chǎn)掃描電鏡,良好售后服務(wù)系統(tǒng)。
更新時間:2025-12-27
SS-150系列掃描電鏡
ss-150系列臺式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間??;放大倍率30~150,000 x ;5nm分辨率;采用二次電子和背散電子雙重探測器;通過選配eds可進(jìn)行元素成份分析;ss-150系列掃描電鏡具有強(qiáng)大軟件功能,操作簡單,易于維護(hù);國產(chǎn)掃描電鏡,良好售后服務(wù)系統(tǒng)。
更新時間:2025-12-27
2024年5月30日,日本電子株式會社(jeol)全球同步發(fā)布新型號的120kv透射電鏡。這款電鏡設(shè)計(jì)精煉,更換燈絲方便,自動化程度高,具有操作簡單方便,功能強(qiáng)大等特點(diǎn)。
更新時間:2025-12-27
日本JEOL 掃描電子顯微鏡JSM-IT510 InTouchScope™
掃描電子顯微鏡 (sem) 不僅是開展科研工作所必不可少的工具,對于需要品控的制造工廠也是不可或缺的。 在這些場景中,用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 jsm-it510 新增的“簡單 sem”功能,用戶可將 sem 觀察所需的“手動重復(fù)操作交給它”,從而更高效、更輕松地完成 sem 觀察。
更新時間:2025-12-27
SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡#2023已更新
sem掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-12-27
SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡
sem掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-12-27
陰極發(fā)射體
陰極/發(fā)射器既有標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品,也有定制設(shè)計(jì),應(yīng)用包括電子顯微鏡、光刻、x射線生成、自由電子激光器、電子加速器等。
更新時間:2025-12-27
TESCAN--場發(fā)射掃描電鏡 MIRA
ui新一代的mira場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了zui新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)(如改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像過程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償,有內(nèi)置的編程軟件等),同時保持著zui高的性價比。mira3的設(shè)計(jì)適用于各種各樣的sem應(yīng)用及當(dāng)今研究和產(chǎn)業(yè)的需求。大電子束流下的高分辨率有利于分析應(yīng)用,例如:ebsd、wdx等分析。mira3場發(fā)射掃描電鏡可配置lm、xm或gm三種樣品室。
更新時間:2025-12-26
鎢燈絲掃描電鏡 VEGA
vega系列的設(shè)計(jì)適合各種sem應(yīng)用及當(dāng)今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展,tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。新一代的vega給用戶帶了zui新的技術(shù)優(yōu)勢,包括改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像速度更快,包含了靜態(tài)和動態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償技術(shù)的超快掃描系統(tǒng),內(nèi)置的編程軟件等,使vega系列產(chǎn)品保持著非常高的性價比。
更新時間:2025-12-26
韓國SEC掃描電子顯微鏡采購價格
sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對工廠和實(shí)驗(yàn)室配置的一款高端掃描電鏡.
更新時間:2025-12-25
韓國賽可臺式掃描電鏡4500
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-12-25
韓國SEC掃描電子顯微鏡
sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對工廠和實(shí)驗(yàn)室配置的一款高端掃描電鏡.
更新時間:2025-12-25

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑