XP204型分析天平

技術指標

最大稱量值	220g
可讀性	0.1mg
重復性：正常加載(sd)	0.07mg（200g）
重復性：微量加載	0.05mg（10g）
線性	0.2mg
四角誤差	0.25mg（100g）
靈敏度漂移	3x10^-6
靈敏度溫度漂移（10-30°C）	1x10^-6/°C
接口更新速率	23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)	263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)	76×73

XP504DR型分析天平

型分析天平

技術指標

最大稱量值	520g
精細量程的最大稱量值	101g
可讀性	1mg
精細量程的可讀性	0.1mg
重復性：正常加載(sd)	0.6mg（100g）
重復性：微量加載	0.5mg（10g）
重復性：精細量程微量加載	0.1mg（10g）
線性	0.5mg
四角誤差	0.5mg（200g）
靈敏度漂移	4x10^-6
靈敏度溫度漂移（10-30°C）	1x10^-6/°C
接口更新速率	23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)	263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)	76×73

XP504型分析天平

型分析天平

耗材與選件天平－輔助顯示屏(柱式(背亮)輔助顯示屏) 天平－輔助顯示屏(臺式(背亮)輔助顯示屏) 天平－打印機及配件(記錄結果打印機適用于LocalCAN)

XP205DR型分析天平

分析天平分析天平技術指標

最大稱量值	220g
精細量程的最大稱量值	81g
可讀性	0.1mg
精細量程的可讀性	0.01mg
重復性：正常加載(sd)	0.06mg（200g）
重復性：微量加載	0.05mg（10g）
重復性：精細量程微量加載	0.015mg（10g）
線性	0.15mg
四角誤差	0.25mg（100g）
靈敏度漂移	2.5x10^-6
靈敏度溫度漂移（10-30°C）	1x10^-6/°C
接口更新速率	23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)	263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)	76×73

XP205型分析天平

分析天平

技術指標

最大稱量值	220g
可讀性	0.1mg
重復性：正常加載(sd)	0.07mg（200g）
重復性：微量加載	0.05mg（10g）
線性	0.2mg
四角誤差	0.25mg（100g）
靈敏度漂移	3x10^-6
靈敏度溫度漂移（10-30°C）	1x10^-6/°C
接口更新速率	23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)	263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)	76×73

XP204型分析天平

型分析天平型分析天平技術指標

最大稱量值	220g
可讀性	0.1mg
重復性：正常加載(sd)	0.07mg（200g）
重復性：微量加載	0.05mg（10g）
線性	0.2mg
四角誤差	0.25mg（100g）
靈敏度漂移	3x10^-6
靈敏度溫度漂移（10-30°C）	1x10^-6/°C
接口更新速率	23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)	263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)	76×73

XP105DR型分析天平

分析天平分析天平技術指標

最大稱量值	120g
精細量程的最大稱量值	31g
可讀性	0.1mg
精細量程的可讀性	0.01mg
重復性：正常加載(sd)	0.06mg（100g）
重復性：微量加載	0.05mg（10g）
重復性：精細量程微量加載	0.015mg（10g）
線性	0.15mg
四角誤差	0.2mg（50g）
靈敏度漂移	4x10^-6
靈敏度溫度漂移（10-30°C）	1x10^-6/°C
接口更新速率	23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)	263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)	76×73

XP105DR型分析天平

技術指標

最大稱量值	120g
精細量程的最大稱量值	31g
可讀性	0.1mg
精細量程的可讀性	0.01mg
重復性：正常加載(sd)	0.06mg（100g）
重復性：微量加載	0.05mg（10g）
重復性：精細量程微量加載	0.015mg（10g）
線性	0.15mg
四角誤差	0.2mg（50g）
靈敏度漂移	4x10^-6
靈敏度溫度漂移（10-30°C）	1x10^-6/°C
接口更新速率	23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)	263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)	76×73

XP204型分析天平

技術指標

最大稱量值	220g
可讀性	0.1mg
重復性：正常加載(sd)	0.07mg（200g）
重復性：微量加載	0.05mg（10g）
線性	0.2mg
四角誤差	0.25mg（100g）
靈敏度漂移	3x10^-6
靈敏度溫度漂移（10-30°C）	1x10^-6/°C
接口更新速率	23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)	263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)	76×73

XP205型分析天平

技術指標

最大稱量值	220g
可讀性	0.1mg
重復性：正常加載(sd)	0.07mg（200g）
重復性：微量加載	0.05mg（10g）
線性	0.2mg
四角誤差	0.25mg（100g）
靈敏度漂移	3x10^-6
靈敏度溫度漂移（10-30°C）	1x10^-6/°C
接口更新速率	23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)	263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)	76×73

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