掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
標(biāo)準(zhǔn)操作sh/t 0059潤滑油燕發(fā)損失的測定諾亞克法
更新時間:2025-12-26
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-12-26
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-12-26
德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計優(yōu)勢，采用專利保護(hù)的雙光路設(shè)計，完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實(shí)現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-12-26
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-12-26
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測
更新時間:2025-12-26
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達(dá)450mm，檢測時間短，也不需要做其它設(shè)定。
更新時間:2025-12-26
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時間:2025-12-26
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時間:2025-12-26
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-12-26
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2025-12-26
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-12-26
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-12-26
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-26
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-26
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-12-26
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-12-26
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-12-26
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:2025-12-26
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-12-26
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時間:2025-12-26
ui新一代的mira場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了zui新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)（如改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像過程更快，快速掃描系統(tǒng)包括了動態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償，有內(nèi)置的編程軟件等），同時保持著zui高的性價比。mira3的設(shè)計適用于各種各樣的sem應(yīng)用及當(dāng)今研究和產(chǎn)業(yè)的需求。大電子束流下的高分辨率有利于分析應(yīng)用，例如：ebsd、wdx等分析。mira3場發(fā)射掃描電鏡可配置lm、xm或gm三種樣品室。
更新時間:2025-12-26
vega系列的設(shè)計適合各種sem應(yīng)用及當(dāng)今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展，tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。新一代的vega給用戶帶了zui新的技術(shù)優(yōu)勢，包括改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像速度更快，包含了靜態(tài)和動態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償技術(shù)的超快掃描系統(tǒng)，內(nèi)置的編程軟件等，使vega系列產(chǎn)品保持著非常高的性價比。
更新時間:2025-12-26
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-12-25
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-12-25
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強(qiáng)大的"zeromag"功能，讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實(shí)現(xiàn)了sem影像觀察時實(shí)時的eds成份分析。
更新時間:2025-12-25
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。
更新時間:2025-12-25
超聲掃描顯微鏡（sat）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設(shè)備，主要利用高頻超聲波，對各類半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測，能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會對樣品造成損傷，不會影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。
更新時間:2025-12-25
tomlov hdmi電源產(chǎn)品顯微鏡將傳統(tǒng)顯微鏡升級為數(shù)字可視化系統(tǒng)，讓觀察更輕松、記錄更便捷。三款產(chǎn)品以不同配置滿足從入門到專業(yè)的各類需求，是電子愛好者、收藏家和專業(yè)維修人員的實(shí)用工具。
更新時間:2025-12-25
視頻顯微鏡可以對微小物體通過光學(xué)體視顯微鏡放大，將放大后的的圖像導(dǎo)入到電視機(jī)或計算機(jī)，在顯示屏上顯示出來進(jìn)行觀察分析。
更新時間:2025-12-25
zsm-300/500視頻顯微鏡充分考慮教學(xué)示范、工業(yè)檢驗(yàn)對方便性和直觀性的要求而設(shè)計。廣泛應(yīng)用于教學(xué)、科研、電子工業(yè)和精密機(jī)械零件的檢驗(yàn)、農(nóng)業(yè)種子檢查、考古檢驗(yàn)等。
更新時間:2025-12-25
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-12-25
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2025-12-25
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達(dá)到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點(diǎn)： 1. 新型
更新時間:2025-12-25
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng)，強(qiáng)大的自動化功能，操作更簡易。 特點(diǎn): 1. s-3400n具有強(qiáng)大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-12-25
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達(dá)300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達(dá)203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進(jìn)行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達(dá)臺可以傾
更新時間:2025-12-25
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-12-25
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-12-25
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2025-12-25
這種新型的冷場發(fā)射電子槍采用日立專利的“柔性閃爍”“mild flashing”技術(shù)和全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)，在發(fā)射極尖端極大限度減少氣體分子附著。 發(fā)射極始終運(yùn)行于“潔凈”的狀態(tài)，發(fā)射電流和電子束穩(wěn)定性顯著提升。 即使在低加速電壓下，也可以得到高信噪比的sem信號并進(jìn)行高分辨觀察。 這些增強(qiáng)性能開辟了低電壓下元素微量分析的全新里程。
更新時間:2025-12-25
專門為電子束敏感樣品和需最大300萬倍穩(wěn)定觀察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計。
更新時間:2025-12-25
掃描隧道顯微鏡◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩(wěn)定；◆ 精密激光及探針定位裝置，更換探針及調(diào)節(jié)光斑簡單方便；◆ 單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區(qū)域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動探測的智能進(jìn)針方式，保護(hù)探針及樣品；◆ 4x物鏡光學(xué)定位，無需調(diào)焦，實(shí)時觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域；◆ 彈簧懸掛式防震方式，簡單實(shí)用，防震效果好；
更新時間:2025-12-25
教學(xué)型掃描隧道顯微鏡◆ 小型化及可拆卸化設(shè)計，方便攜帶及課堂教學(xué)；◆ 檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩(wěn)定；◆ 單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區(qū)域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動探測的智能進(jìn)針方式，保護(hù)探針及樣品；◆ 側(cè)面ccd觀測系統(tǒng)，實(shí)時觀察探針進(jìn)針狀態(tài)及定位樣品掃描區(qū)域；◆ 彈簧懸掛式防震方式，簡單實(shí)用，防震效果好；
更新時間:2025-12-25
日本東亞電波離子層析儀(離子色譜儀)本體裝置和數(shù)據(jù)處理裝置之間的通信，如導(dǎo)入lan的設(shè)施，可作遠(yuǎn)距操作。擁有優(yōu)越的擴(kuò)張性、如增設(shè)pump、檢出器等的單元，可對應(yīng)陰離子、陽離子2ch的同時分析。依抑制因子系統(tǒng)可
更新時間:2025-12-24
最新產(chǎn)品
- 上海-10號柴油配送，上海嘉定工廠-10號柴油批發(fā) 2025/12/27 5:12:17
- 機(jī)箱 cDAQ-9188 2025/12/26 20:42:58
- MOD600ADOM4R 2025/12/26 20:42:26
- HCS02-1E-W0070-A-03-NNNN 伺服驅(qū)動 2025/12/26 20:41:42
- 103H8221-6241 電機(jī) 2025/12/26 20:39:03
- FHA-8C-50-E200-C 諧波驅(qū)動馬達(dá) 2025/12/26 20:38:24
- ESM-103X 板卡 2025/12/26 20:37:49
- FR-D740-050-EC變頻器 2025/12/26 20:37:11
- UD1BG3-045N-1KC-2M2-N 伺服驅(qū)動 2025/12/26 20:34:26
- i-GEN1310 2025/12/26 20:33:39
- UMS 2100 控制器 2025/12/26 20:32:54
- TURBO PMAC2 CPU 板卡 2025/12/26 20:32:13
- FM.AEB.HM1 VO2 板卡 2025/12/26 20:29:37
- ETOS-200 板卡 2025/12/26 20:29:08
- ST73 KOGYO 驅(qū)動器 2025/12/26 20:28:14
- A06B-0063-B203 電機(jī) 2025/12/26 20:25:12
- CT-807-A 溫度變送器 2025/12/26 20:24:39
- MIF 66P3311 板卡 2025/12/26 20:23:59
- 液位控制器 CT-2.3 2025/12/26 20:23:28
- 1756-PA75/B 模塊 2025/12/26 20:20:42
- SFLA36AT0250 繼電器 2025/12/26 20:20:05
- VCF6GEN 急停開關(guān) 2025/12/26 20:19:33
- IAI電缸接口模塊 ED-048-9-019-0-000-1 2025/12/26 20:18:52
- E84AYCECV 擴(kuò)展模塊 2025/12/26 20:16:09
- 0100-76124 板卡 2025/12/26 20:15:37
- VT585WBPT00 觸摸屏 2025/12/26 20:14:57
- EWL0085/S 連接電纜 2025/12/26 20:14:10
- CIMR-VC4A0005BAA 變頻器 2025/12/26 20:11:43
- I-MAT1330-D 2025/12/26 20:11:05
- 6SE7098-0XX84-0880 板卡 2025/12/26 20:10:21