近紅外光譜儀產(chǎn)品及廠家

XL­410近紅外檢測儀  美國
現(xiàn)代近紅外光譜(nir)分析技術是近年來分析化學領域迅猛發(fā)展的高新分析技術,它的出現(xiàn)帶來了又一次分析技術的革命。與傳統(tǒng)分析技術相比,近紅外光譜分析技術有諸多優(yōu)點,它能在幾分鐘內,僅通過對被測樣品完成一次近紅外光譜的采集測量,即可完成其多項性能指標的測定(最多可達十余項指標)。光譜測量時不需要對分析樣品進行前處理;分析過程中不消耗其它材料或破壞樣品;分析重現(xiàn)性好、成本低。對于經(jīng)常的質量監(jiān)控是十分經(jīng)濟且快速的。
更新時間:2025-12-25

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