本系列程控耐壓測(cè)試儀均采用高速mcu和大規(guī)模數(shù)字電路設(shè)計(jì)的高性能的安規(guī)測(cè)試儀，其輸出電壓的大小、輸出電壓的上升、下降、輸出電壓的頻率完全由mcu控制，能實(shí)時(shí)顯示擊穿電流值和電壓值，并具有軟件校準(zhǔn)功能，配備plc接口、rs232c、rs485、usb device、usb host接口，可方便與計(jì)算機(jī)或plc組成綜合測(cè)試系統(tǒng)。