X射線晶體分析儀產(chǎn)品及廠家

FischerX射線金屬材料分析儀X-RAY XAN® 250/252、XDL®、XDV®-SDD
高性能x射線熒光測量儀,配有最先進的硅漂移探測器(sdd),可快速、無損地進行rohs檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
更新時間:2025-12-25

最新產(chǎn)品

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